HALT試験(Highly Accelerated Life Test)は、機器に対して仕様を超える温度・振動ストレスを印加して機器に潜在する「故障の芽」を早期に発見し、改善することによりフィールド不具合の未然防止を図るものです。 アンリツでは、いち早く電子計測器にHALT試験を適応し、製品の信頼性向上の実績を上げます。
蓄積されたHALT試験の分析や対策のノウハウを基に、お客さまの新商品の限界点を見極め弱点あぶり出しを実現します。
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